風冷式冷熱沖擊測試箱

同溫段沖擊：由多級蒸發器結構相應切斷，控制蒸發面積與制冷量膨脹閥匹配，使用制冷系統輸出合理減少加熱器中和的輸出量，達到恒定節能；另有獨立的換氣閥門，在排氣（常溫恢復）時動作引入環境空氣進氣口。在環境溫度曝露時吸進外面的空氣排氣口，從機械室和試驗區排出熱氣定時預定功能預先設定試驗開始時間，試驗箱自動開始起動并準備。開始試驗曝露時間縮短功能試驗區的下風溫度達到曝露溫度后，轉換到下一個曝露的功能前處理/后處理功能。在循環試驗開始前或結束后，試樣被曝露在高溫環境中（熱處理）維持一定時間干燥運轉功能試驗結束后，低溫箱可以在干燥條件下運轉一定的時間。

風冷式冷熱沖擊測試箱 用途：

適用于國防工業,航空工業、兵工業、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產品、塑 膠、化工業、食品業、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁制藥工業及相關產品等設備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗（沖擊），適應于儀器、儀表、電工、電子產品整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質,從精密的IC到重機械的組無一不需要它的理想測試工具.

風冷式冷熱沖擊測試箱滿足標準：

1. GB10589-89 低溫試驗箱技術條件

2. GB11158-89 高溫試驗箱技術條件

3. GB10592-89 高低溫試驗箱技術條件

4. GB2423.1 低溫試驗、試驗A

5. GB2423.2 高溫試驗、試驗B

6. GB2423.22 溫度變化試驗、試驗N

7. IEC68-2-14 試驗N

8. GJ標GJB150.3-86

9. GJ標GJB150.4-86

10.GB2423.1-89 電工電子產品基本試驗規程試驗A:低溫試驗方法 　

11.GB2423.2-89 電工電子產品基本試驗規程試驗B:高溫試驗方法

技術參數：

1、 溫度范圍：-20℃/-40℃/-55℃/-65℃～+150℃

2、 溫度上限：+200℃

3、 溫度下限：-75℃

4、 溫度偏差：±2℃

5、 溫度波動度：±0.5℃

6、 溫度恢復時間：5min

7、 溫度恢復條件：高溫+150℃保溫≥30min低溫-40℃保溫≥30min.

8、 試品轉移方式：采用氣動

9、試品重量：≤5kg

10、電源：AC380V±10％/50/60Hz+保護接地

型號及內箱尺寸（W寬XH高X深D）

ZT-30A-S　    W寬300XH高350XD深300mm

ZT-50A-S　    W寬350XH高400XD深350mm

ZT-80A-S　    W寬400XH高500XD深400mm

ZT-150A-S　  W寬500XH高600XD深500mm

ZT-252A-S     W寬600XH高700XD深600mm

安全保護措施：

1、安全可靠的接地保護裝置

2、電源欠壓、缺相保護

3、獨立的工作室超溫保護

4、制冷機超壓、過載、油壓欠壓保護；

5、加熱器短路、過載保護

6、漏電保護、報警聲訊提